Messung der Partikelgrößenverteilung im ultrafeinen: U-SMPS System

Messung von Partikelgrößenverteilungen von 4 nm bis 1,2 µm

Bestimmung der Partikelgrößenverteilung von ultrafeinen Aerosolen von 4 nm bis 1,2 µm.
Die Serie U-SMPS besteht aus einem Partikelgrößenklassierer DEMC, mit dem aus einem polydispersen Aerosol in Abhängigkeit von der angelegten Spannung eine monodisperse Partikelfraktion ausgeleitet wird und einem Partikelzähler zur Bestimmung der Anzahlkonzentration. Den Algorithmus für die Inversion der gemessenen Daten zu einer Partikelgrößenverteilung hat Palas® von Prof. Wiedensohler übernommen.

Mit dem U-SMPS kann in Konzentrationen bis 108 Partikel/cm3 gemessen werden. Das U-SMPS ist mit einem kontinuierlichen und schnell scannenden Messprinzip ausgestattet und scannt sowohl „Up“ als auch „Down“. Palas® hat als erster Hersteller weltweit diesen „Up and Down“-Scan-Modus entwickelt und eingebaut. Das U-SMPS unterstützt universell DMAs, CPCs und Aerosolelektrometer anderer Hersteller. Es kann durch verschiedene Schnittstellen (USB, LAN, WLAN, RS-232/485) an andere Computer oder Netzwerke angeschlossen werden.
Das U-SMPS wird durch die besonderen Vorteile in der Praxis erfolgreich eingesetzt. 

U-SMPS 1050 / 1100 / 1200

Universal Scanning Mobility Particle Sizer für vielfältige Anwendungen von 4 – 600 nm

U-SMPS 1X00_frontal_freigestellt.jpg

U-SMPS 1700

Universal Scanning Mobility Particle Sizer für hohe Konzentrationen von 4 – 600 nm

U-SMPS 1700

U-SMPS 2050 / 2100 / 2200

Universal Scanning Mobility Particle Sizer für vielfältige Anwendungen von 8 – 1400 nm

U-SMPS 2050_2100_2200 - Scannendes Partikelmobilitätsklassiersystem

U-SMPS 2700

Universal Scanning Mobility Particle Sizer für hohe Konzentrationen von 8 – 1200 nm

U-SMPS 2700_freigestellt.jpg